ScanChain扫描链测试过程的优化与应用 简介： 在集成电路设计中，扫描链测试是一种常用的测试方法，用于检测芯片中的故障和缺陷。ScanChain扫描链是一种特殊的设计结构，通过将逻辑电路中的寄存器连接成一个链状结构，可以实现对整个芯片的全面测试。本文将介绍DFT中的ScanChain扫描链测试过程，并探讨其优化与应用。 1. ScanChain扫描链测试过程 ScanChain扫描链测试是一种基于扫描链结构的测试方法，其主要过程包括以下几个步骤： 1.1 扫描链的构建 在芯片设计的过程中